三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x(CMM)
三座標(biāo)測(cè)量?jī)x是通過三維空間的基本座標(biāo),采用幾何元素的測(cè)量方法,包括點(diǎn)、線、面、圓、球、圓柱、圓錐等,對(duì)一些復(fù)雜精密的工件的尺寸、形狀和形位公差和高精度的幾何零件的曲面、復(fù)雜形狀的機(jī)械零部件,進(jìn)行連續(xù)掃描從而完成零件檢測(cè)、外形測(cè)量、過程控制等任務(wù),它現(xiàn)在廣泛用于精密零配件,精密模具、精密制造、軍工、航空以及汽車制造等領(lǐng)域